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时间地点：2017年7月4日15:00，教学楼2-104 主讲人：龚慧兰 主讲人介绍： 厦门睿析检测技术有限公司高级工程师 讲座内容： 1、半导体产业链/应用推动产业发展/发展趋势 2、从设计到制造与封装过程的失效分析 3、失效分析流程/失效发生的部位及使用的分析设备/分析设备介绍/案例分享 |
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